Systemy źródeł optycznych (SourceMeter do testów diod laserowych) Keithley

Zapytaj o produkt

Przewidywany czas dostawy: 5 tygodni

Pliki do pobrania

Katalog

Kategorie

Opis

Urządzenia Keithley Instruments ułatwiają budowę systemu LIV (Light–Current–Voltage) do ekonomicznych testów modułów diod laserowych.

2520 Pulse Laser Diode Test System: zsynchronizowany system testowy zapewniający możliwość wymuszania sygnału i wykonywania pomiarów w testach impulsowych i ciągłych LIV.
Źródła SourceMeter SMU TEC 2510 i 2510-AT: zapewniają precyzyjną kontrolę temperatury modułów diod laserowych poprzez sterowanie ich termoelektrycznym układem chłodzenia (TEC).

Aktywna kontrola temperatury – zapobiega zmianom temperatury, które mogłyby przesuwać długość fali emisji lasera i powodować przesłuchy sygnału.
Sterownik TEC o mocy 50 W – umożliwia szybsze testowanie i szerszy zakres temperatur niż słabsze rozwiązania.
W pełni cyfrowe sterowanie P-I-D – zapewnia wysoką stabilność temperatury i możliwość aktualizacji poprzez firmware.
Autostrojenie pętli regulacji (2510-AT) – eliminuje konieczność ręcznego doboru parametrów P, I i D.
Szeroki zakres temperatur (–50°C do +225°C), wysoka rozdzielczość (±0,001°C) i stabilność (±0,005°C) – pokrywa większość zastosowań w testach produkcyjnych komponentów optycznych.
Obsługa wielu czujników temperatury (termistory, RTD, czujniki IC) – kompatybilność z popularnymi sensorami w modułach laserowych.
Pomiar rezystancji AC Ohms – pozwala sprawdzić poprawność działania elementu TEC.
Detekcja przerwy/zwarcia w układzie 4-przewodowym – eliminuje błędy rezystancji przewodów i zmniejsza ryzyko fałszywych wyników lub uszkodzeń.

Zobacz aktualne promocje

Tespol Sp. z o.o.
ul. Klecińska 125, 54-413 Wrocław, Budynek Beta (Wrocławski Park Technologiczny)

Popularne kategorie

Więcej informacji

Dla Klienta