Systemy testów parametrycznych Keithley

Rozwiązania do testów produkcyjnych o wysokiej szybkości

Zastosowania obejmują kontrolę procesu półprzewodników (PCM), testy TEG oraz sortowanie kostek (die sort).

• Równoległe testowanie (parallel test)
  Maksymalizuje przepustowość testów.
• Pomiary w zakresie od kV do fA w jednym przyłożeniu sondy
  Zwiększa wydajność i skraca czas testowania.
• Kalibracja systemowa zgodna z ISO-17025
  Zapewnia wysoką dokładność i zgodność metrologiczną.
• Łatwa migracja z systemów starszej generacji
  Możliwość ponownego wykorzystania kart sond (probe card).
• Niski całkowity koszt posiadania (TCO/COO)
  Optymalizacja kosztów eksploatacji systemu.

W pełni konfigurowalne systemy testowe

Zastosowania obejmują R&D, testy niezawodności, analizę offline oraz testy funkcjonalne półprzewodników, komponentów, modułów oraz wyświetlaczy.

• W pełni niestandardowe rozwiązania systemowe
  Obejmujące bezpieczeństwo (EMO), dystrybucję mocy oraz oprogramowanie.
• Skalowalna architektura sprzętowa oparta na instrumentach
  Elastyczne, definiowane przez użytkownika rozwiązania programowe.
• Konfiguracje o wysokiej gęstości SMU na pin lub matrycowe
  Umożliwiają dużą skalę testów.
• Szeroki zakres pomiarowy od kV do fA
  W tym szybkie impulsy, pomiary pojemności oraz inne techniki z wykorzystaniem urządzeń Keithley i innych producentów.
• Wbudowane narzędzia analityczne (np. WLR)
  Ułatwiają analizę danych i ocenę parametrów urządzeń.