Zaloguj się
0

Koszyk

Brak produktów w koszyku.

Koszyk

Podwójnie spolaryzowana liniowa matryca sond do szybkiej kalibracji anten fazowanych SpeedProbe DL MVG

Przewidywany czas dostawy: 5 tygodni
Pliki do pobrania
Kategorie

Opis

SpeedProbe DL to podwójnie spolaryzowana liniowa matryca wielosondowa przeznaczona do znacznego przyspieszenia procesu kalibracji aktywnych anten fazowanych (Active Phased Arrays) w systemach pomiarowych bliskiego pola typu płaskiego (Planar Near-Field) oraz cylindrycznego (Cylindrical Near-Field).

Rozwiązanie umożliwia przekształcenie istniejących systemów jednosondowych w zaawansowane systemy wielosondowe poprzez prostą modernizację sprzętową. Dzięki zastosowaniu konfigurowalnej tablicy wielu sond system zapewnia wysoką dokładność pomiarów, większą elastyczność oraz znaczące skrócenie czasu wykonywania testów.

SpeedProbe DL został zaprojektowany szczególnie z myślą o produkcyjnej kalibracji anten aktywnych, gdzie szybkość, powtarzalność oraz dokładność pomiarów mają kluczowe znaczenie.

Najważniejsze korzyści:

  • Do 5 razy szybsza kalibracja aktywnych anten fazowanych
    Wielosondowa konstrukcja umożliwia jednoczesny pomiar większej liczby punktów przestrzeni, znacząco skracając czas testów.
  • Łatwa integracja z istniejącymi systemami
    System może zostać zastosowany jako modernizacja obecnych stanowisk pomiarowych bez konieczności całkowitej wymiany infrastruktury.
  • Szybka konfiguracja pod konkretne wymagania
    Możliwość dostosowania zakresów częstotliwości oraz konfiguracji rozmieszczenia sond (lattice configuration).
  • Minimalny czas przestoju podczas wymiany sond
    Konstrukcja pozwala na szybką wymianę elementów pomiarowych i ograniczenie przerw w pracy systemu.
  • Wysoki zwrot z inwestycji (ROI)
    Zwiększenie wydajności stanowiska pomiarowego pozwala obniżyć koszty testów i zwiększyć przepustowość produkcji.

Zastosowania:

  • Kalibracja aktywnych anten fazowanych w produkcji.
  • Testowanie sygnałów impulsowych (Pulsed Wave) oraz ciągłych (Continuous Wave – CW).
  • Pomiary i charakterystyka systemów antenowych wysokiej częstotliwości.
  • Modernizacja istniejących stanowisk pomiarowych bliskiego pola.

Technologia pomiarowa:

  • Near-field / Planar
    Systemy pomiarowe bliskiego pola z płaską powierzchnią skanowania.
  • Near-field / Cylindrical
    Systemy pomiarowe bliskiego pola wykorzystujące skanowanie cylindryczne.

Najważniejsze cechy techniczne:

  • Liniowa matryca wielu sond
    Zawiera wiele miniaturowych sond pomiarowych o podwójnej polaryzacji i niskich właściwościach rozpraszających, co zapewnia wysoką dokładność pomiarów.
  • Podwójna polaryzacja
    Obsługa pomiarów dla polaryzacji:
    • H (poziomej),
    • V (pionowej).
  • Pomiary w czasie rzeczywistym
    Automatyzacja analizy:
    • kierunku wiązki (beam pointing),
    • zysku anteny (gain),
    • kierunkowości (directivity).
  • Szeroki zakres częstotliwości
    Obsługa pasma od L-band do Ku-band.
  • Zakres częstotliwości:
    1000 MHz – 18000 MHz
  • Szerokość pasma częstotliwościowego:
    25%

Powiązane produkty

© Tespol Sp. z o.o.

Design: Proformat

Zgoda na przetwarzanie danych osobowych*