Źródło mierzące Keithley 2657A jest przyrządem dedykowanym do pomiarów przyrządów półprzewodnikowych mocy takich jak: diody, tranzystory FET, IGBT oraz innych struktur półprzewodnikowych takich jak przykładowo GaN lub SiC. Przyrząd umożliwia dokładny pomiar niskich prądów przy wymuszeniu wysokim napięciem, którego wartość może wynosić nawet 3 kV. Umożliwia to wykorzystanie przyrządu do pomiaru napięcia przebicia i prądu upływu. W trybie źródła lub obciążenia wartość mocy może wynosić maksymalnie 180 W przy sygnałach DC lub impulsowych (± 3kV@20 mA, ± 1500@120 mA). Przyrząd może współpracować z celką pomiarową Keithley 8010, umożliwiającą pomiary parametrów przyrządów półprzewodnikowych dużej mocy. Dedykowane oprogramowanie (Test Script Builder, ACS Basic Edition) oraz sterowniki umożliwiają swobodne programowanie cyklu pomiarowego oraz sterowanie przyrządem z poziomu oprogramowania LabView.
Tak jak każde klasyczne źródło mierzące (SMU) przyrząd Keithley 2657A umożliwia pracę we wszystkich czterech ćwiartkach układu współrzędnych charakterystyki napięciowo-prądowej (w trybie źródła lub obciążenia), zapewniając jednocześnie pomiary napięcia i prądu (przy pracy w trybie amperomierza lub woltomierza).
Tak jak każde klasyczne źródło mierzące (SMU) przyrząd Keithley 2657A umożliwia pracę we wszystkich czterech ćwiartkach układu współrzędnych charakterystyki napięciowo-prądowej (w trybie źródła lub obciążenia), zapewniając jednocześnie pomiary napięcia i prądu (przy pracy w trybie amperomierza lub woltomierza). Przyrząd może być wykorzystany w następujących aplikacjach: