Keithley S530

Keithley S530 to zaawansowany system testowy do pomiarów parametrycznych, który jest wykorzystywany do charakteryzacji i testowania półprzewodników. Oferuje on szeroki zakres pomiarów prądowo-napięciowych (I-V) oraz pojemnościowo-napięciowych (C-V), co czyni go idealnym narzędziem do monitorowania i kontroli procesów, testowania niezawodności oraz charakteryzacji przyrządów półprzewodnikowych.

Tab #1
Tab #2
Tab #3
Cechy i funkcje

Podstawowe cechy systemu

  • maksymalna moc wyjściowa na źródło mierzące (SMU) wynosząca 20 W
  • zakres napięcia – maksymalnie do 200 V
  • zakres prądu zawierający się w zakresie od 1 nA do 1 A
  • rozdzielczość pomiaru prądu zawierająca się w zakresie od 20 fA do 20 μA
  • dokładność źródła prądu na poziomie pikoamperów
  • realizacja pomiaru C-V dla częstotliwości od 10 kHz do 1 MHz z dokładnością od 0,50 % do 5.00 %

System Keithley S530 został zoptymalizowany dla środowisk testowych o wysokim stopniu zróżnicowania, co pozwala na elastyczne dostosowanie go do różnorodnych wymagań testowych. Dzięki elastycznej konfiguracji oraz wykorzystaniu sprawdzonej technologii źródeł mierzących, system ten jest niezwykle wydajnym i efektywnym narzędziem w różnorodnych zastosowaniach.

Zobacz także

 - bądź na bieżąco

Otrzymuj informacje o zbliżających się wydarzeniach i nowych produktach.