Keithley S530 to zaawansowany system testowy do pomiarów parametrycznych, który jest wykorzystywany do charakteryzacji i testowania półprzewodników. Oferuje on szeroki zakres pomiarów prądowo-napięciowych (I-V) oraz pojemnościowo-napięciowych (C-V), co czyni go idealnym narzędziem do monitorowania i kontroli procesów, testowania niezawodności oraz charakteryzacji przyrządów półprzewodnikowych.
Podstawowe cechy systemu
System Keithley S530 został zoptymalizowany dla środowisk testowych o wysokim stopniu zróżnicowania, co pozwala na elastyczne dostosowanie go do różnorodnych wymagań testowych. Dzięki elastycznej konfiguracji oraz wykorzystaniu sprawdzonej technologii źródeł mierzących, system ten jest niezwykle wydajnym i efektywnym narzędziem w różnorodnych zastosowaniach.