Keithley 2750

Keithley 2700 Multimeter/Data Acquisition/Switch Systems

Keithley 2750 łączy w sobie precyzyjny pomiar, przełączanie wielokanałowe i  kontrolę nad procesem pomiarowym w jednej, ściśle zintegrowanej obudowie, przeznaczonej do montażu w szafach lub do wykorzystania bezpośrednio na stole laboratoryjnym. Te platformy testowe o wysokiej wydajności i atrakcyjnym stosunku ceny do jakości stanowią opłacalną alternatywę dla oddzielnych multimetrów cyfrowych i systemów przełączających, rejestratorów danych, urządzeń przeznaczonych do akwizycji danych wyposażonych w karty rozszerzeń oraz systemów VXI/PXI. Moduły przełączające i kontrolne serii Integra oferują niezrównaną elastyczność i efektywność testowania w szerokim spektrum branż i zastosowań. Moduły wejściowe zapewniają elastyczność pozwalającą na zmienianie liczby kanałów od 20 do 200 (2-biegunowych), dostarczanie sygnałów do testowanego urządzenia, zarządzanie sygnałami testowymi, kontrolowanie komponentów systemu oraz dokonywanie precyzyjnych pomiarów za pomocą 14 wbudowanych w przyrząd funkcji. Dodatkowo, interfejs cyfrowych wejść/wyjść może być wykorzystany do uruchamiania procedury testowej, współpracy z innymi urządzeniami, automatyzacji oraz generowania alarmów przy przekroczeniu limitu dla wybranych przez użytkownika parametrów. Prędkości skanowania sięgające do 500 kanałów/sekundę (do 3500 odczytów/sekundę na pojedynczym kanale) zwiększą produktywność testów.

Tab #1
Tab #2
Tab #3
Cechy i funkcje
Katalog

Podstawowe zalety systemu

  • rozdzielczość 6½ cyfry (22 bity przetwornika ADC)
  • wybór spośród 12 kart pomiarowych do przełączania/kontroli testowanych obiektów
  • maksymalnie 200 różnicowych kanałów wejściowych (z izolacją 300V) do pomiaru i kontroli
  • wygodne wejścia na panelu przednim
  • darmowe sterowniki do LabVIEW®, LabWindows/CVI, Visual Basic i C/C++ (w stylu IVI)
  • możliwość komunikacji przez Ethernet, GPIB, RS-232
  • darmowe oprogramowanie do rejestrowania danych ExceLINX™-1A

Przykładowe aplikacje

  • testy produkcyjne komponentów elektronicznych i urządzeń
  • przyspieszone testy wytrzymałościowe (AST)
  • monitorowanie i kontrola procesów
  • charakteryzacja urządzeń/R&D
  • wielokanałowe pomiary małych rezystancji

Zobacz także

 - bądź na bieżąco

Otrzymuj informacje o zbliżających się wydarzeniach i nowych produktach.