Karta sondowa FCB Probe Card to najbardziej zaawansowana i szeroko stosowana technologia typu buckling beam. Została zaprojektowana z myślą o spełnieniu wymagań producentów półprzewodników w zakresie skrócenia czasu wprowadzenia produktu na rynek (TTM – Time-to-Market) oraz obniżenia kosztów testów (COT – Cost of Test).
FCB stanowi sprawdzone rozwiązanie dla szerokiego zakresu testów produkcyjnych półprzewodników — od wczesnych testów inżynieryjnych (pilot runs) aż po produkcję wielkoseryjną (HVM – High Volume Manufacturing).
Technologia FCB jest przystosowana do urządzeń wymagających wysokiej integralności sygnałowej (SI – Signal Integrity) oraz/lub integralności zasilania (PI – Power Integrity). Zastosowania obejmują zaawansowane układy SiP/SoC, WLP (wafer level packaging), procesory graficzne, mikroprocesory, mikrokontrolery przemysłowe i wiele innych.
Karty sondowe FCB oferują jedne z najlepszych w branży kosztów posiadania (COO – Cost of Ownership) dla szerokiego zakresu urządzeń testowanych (DUT), zapewniając optymalną efektywność i wartość.
Design: Proformat