Karta sondowa EVS to ulepszona wersja tradycyjnej karty sondowej z uginającymi się belkami (buckling beam). Kluczowe cechy to większa zdolność przewodzenia prądu (C.C.C. – Current Carrying Capacity), mniejsza zrównoważona siła kontaktu (BCF – Balanced Contact Force) oraz ogólne właściwości zbliżone do MEMS (Mikroelektromechaniczne Systemy). Karta EVS z łatwością spełnia wymagania zaawansowanego sondowania wafli półprzewodnikowych. Precyzyjne wyrównanie i doskonała kontrola płaskości to kluczowe czynniki przyczyniające się do stabilnej rezystancji kontaktowej. Dzięki swojej wydajności i możliwościach karta sondowa EVS jest idealnym wyborem dla zaawansowanych kart sondowych.