Karta sondowa EVS MPI

Opis

Karta sondowa EVS Probe Card to udoskonalona wersja klasycznej karty sondowej typu buckling beam. Jej kluczowe cechy to zwiększona zdolność przenoszenia prądu (C.C.C. – Current Carrying Capacity) oraz niższa, zrównoważona siła kontaktu (BCF – Balanced Contact Force), a także właściwości zbliżone do technologii MEMS.

Rozwiązanie EVS spełnia wymagania zaawansowanych procesów sondowania wafli. Precyzyjne wyrównanie oraz bardzo dobra kontrola płaskości (planarity) są kluczowymi czynnikami zapewniającymi stabilną rezystancję kontaktową. Dzięki swoim parametrom i wydajności EVS Probe Card stanowi idealne rozwiązanie dla zaawansowanych zastosowań testowych.