Jednostka źródłowo-pomiarowa (SMU) Seria 2650 Keithley

Wysoce elastyczne źródło/obciążenie napięcia i prądu w czterech ćwiartkach, połączone z precyzyjnymi miernikami napięcia i prądu
Zapewnia najlepszą w swojej klasie wydajność z rozdzielczością 6½ cyfry.

Źródło lub odbiornik (2651A) do 2000 W mocy impulsowej (±40 V, ±50 A) lub do 200 W mocy DC (±10 V @ ±20 A, ±20 V @ ±10 A, ±40 V @ ±5 A); możliwość łatwego łączenia dwóch urządzeń (szeregowo lub równolegle) w celu uzyskania rozwiązań do ±100 A lub ±80 V
Umożliwia charakteryzację i testowanie półprzewodników mocy, HBLED, urządzeń optycznych, ogniw słonecznych oraz materiałów i elementów z GaN, SiC i innych związków półprzewodnikowych. Zastosowania obejmują m.in. pomiar temperatury złącza, szybkie i precyzyjne cyfryzowanie sygnałów, badania elektromigracji oraz testy urządzeń wysokoprądowych i wysokiej mocy.

Źródło lub odbiornik (2657A) do 180 W mocy DC lub impulsowej (±3000 V @ 20 mA, ±1500 V @ 120 mA)
Zapewnia wysokie napięcie wymagane do charakteryzacji i testowania półprzewodników mocy, w tym GaN, SiC i innych materiałów złożonych, testów przebicia i upływu do 3 kV oraz analizy zjawisk przejściowych w skali milisekund.

Wbudowane oprogramowanie oparte na przeglądarce internetowej
Umożliwia zdalne sterowanie z dowolnej przeglądarki, na dowolnym komputerze, z dowolnego miejsca na świecie.

Wybór trybu pomiaru: cyfrowego (digitizing) lub całkującego (integrating)
Pozwala dokładnie analizować zjawiska przejściowe i stany ustalone, w tym szybko zmieniające się efekty termiczne.

Technologia TSP (Test Script Processing)
Eliminuje opóźnienia komunikacyjne między komputerem a przyrządem poprzez wykonywanie skryptów testowych bezpośrednio w urządzeniu, co znacząco zwiększa przepustowość testów.

Magistrala rozszerzeń TSP-Link
Umożliwia łączenie wielu urządzeń 2651A, 2657A oraz wybranych SMU serii 2600B w zintegrowany system do 32 kanałów.

Obsługa sterowników Python
Pozwala wykorzystać natywne komendy Pythona do sterowania urządzeniami oraz eliminuje konieczność ręcznego parsowania danych. Można używać ulubionych środowisk IDE, takich jak VS Code czy PyCharm.

Zgodność z uchwytem testowym 8010 High Power Device Test Fixture oraz panelem 8020 High Power Interface Panel
Ułatwia bezpieczne i wygodne podłączanie urządzeń dużej mocy, zarówno w obudowach, jak i na poziomie wafla.

Opcjonalne oprogramowanie ACS Basic do charakteryzacji półprzewodników
Zwiększa produktywność podczas testów elementów w obudowach w fazie rozwoju, kontroli jakości oraz analizy awarii.